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  • 偏振相關(guān)損耗測試儀 PDL-201

  • 偏振相關(guān)損耗測試儀 PDL-201

    產(chǎn)品總述

    采用專利最大最小搜索技術(shù)，Luna公司的PDL測量儀能在30 ms內(nèi)，同時(shí)測量待測器件的偏振相關(guān)損耗（PDL），插入損耗（IL）和光功率。使用擾偏法測量的PDL具有很高的不確定性。與這種方法不同，PolaCHEXTM有條理地搜索最大和最小透過率，確保了具有較高和較低PDL值的器件在任何時(shí)刻的測量精度。因此可獲得最精確的PDL值。PolaCHEX覆蓋了較寬的波長范圍：1260~1650 nm，無需波長校準(zhǔn)，比基于Mueller矩陣方法測得的PDL值更準(zhǔn)確。它帶有USB、以太網(wǎng)、GPIB和RS-232接口，用于電腦控制。它能快速、精確測量與波長相關(guān)的無源器件的特性，尤其適用于制造或?qū)嶒?yàn)室中DWDM、光纖傳感元件。與PDL-101相比，PDL-201具有較快的測量速度，較大的測量動(dòng)態(tài)范圍，更明亮的顯示屏，以及用于集成的附加模擬輸出端口。


    產(chǎn)品特性

    30 ms的測量速度

    較寬的波長范圍

    PDL測量精度高

    PDL模擬輸出

    高亮的OLED屏
    功率計(jì)功能


    產(chǎn)品應(yīng)用

    PDL與波長測量

    DWDM器件特性測試

    光纖傳感元件特性測試


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商品描述

產(chǎn)品總述

采用專利最大最小搜索技術(shù)，Luna公司的PDL測量儀能在30 ms內(nèi)，同時(shí)測量待測器件的偏振相關(guān)損耗（PDL），插入損耗（IL）和光功率。使用擾偏法測量的PDL具有很高的不確定性。與這種方法不同，PolaCHEXTM有條理地搜索最大和最小透過率，確保了具有較高和較低PDL值的器件在任何時(shí)刻的測量精度。因此可獲得最精確的PDL值。PolaCHEX覆蓋了較寬的波長范圍：1260~1650 nm，無需波長校準(zhǔn)，比基于Mueller矩陣方法測得的PDL值更準(zhǔn)確。它帶有USB、以太網(wǎng)、GPIB和RS-232接口，用于電腦控制。它能快速、精確測量與波長相關(guān)的無源器件的特性，尤其適用于制造或?qū)嶒?yàn)室中DWDM、光纖傳感元件。與PDL-101相比，PDL-201具有較快的測量速度，較大的測量動(dòng)態(tài)范圍，更明亮的顯示屏，以及用于集成的附加模擬輸出端口。


產(chǎn)品特性

30 ms的測量速度

較寬的波長范圍

PDL測量精度高

PDL模擬輸出

高亮的OLED屏
功率計(jì)功能


產(chǎn)品應(yīng)用

PDL與波長測量

DWDM器件特性測試

光纖傳感元件特性測試


規(guī)格參數(shù)
波長范圍1260~1620nm
分辨率0.01dB
PDL精度±(0.01 + 5% (PDL))(dB)
PDL重復(fù)性±(0.005 + 2% (PDL))(dB)
PDL動(dòng)態(tài)范圍0~45dB
IL精度±(0.01 + 5% (IL))(dB)
IL重復(fù)性±(0.005 dB + 2% (IL))(dB)
IL動(dòng)態(tài)范圍0~45dB
安全功率范圍(DUT輸出口)-40dBm~+6dBm
功率精度±0.25dB
功率測量波長校準(zhǔn)1260~1360nm和1440~1620nm
測量速度30ms/測試(輸入功率>-30dBm)
操作溫度0 ~ 50 °C
儲存溫度-20 ~ 70 °C
前面板顯示OLED圖形顯示
光連接器類型

光源和DUT輸入：APC

DUT輸出：自由空間適配器

模擬輸出0~4V(PDL監(jiān)控電壓)
電源100 – 240 V, 50 – 60 Hz
通訊端口USB, 以太網(wǎng), RS-232, GPIB
尺寸356X216X89mm