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  • 光器件分析儀 LWA 7000 系列

  • 光器件分析儀 LWA 7000 系列

    LWA 7601-C 光器件分析儀主要用于分析無源光器件和模塊，其測試速度快且易于操作。 可以測試插損(IL)和回?fù)p(RL)分布，以及器件長度，在測試光學(xué)器件時(shí)具有反射和透射兩種測量模式。

     

    LWA 7601-C 采用光頻域反射技術(shù)測量光纖背向瑞利散射或透射光作為距離/時(shí)間（或波長）的函數(shù) 。LWA 7601-C 作為光子集成電路和硅光芯片的理想測試工具，得益于其超高的靈敏度和空間分辨率(20μm)?？梢陨墱y量長度，最高可達(dá)500m，使光纖網(wǎng)絡(luò)的測試變得簡單。 LWA 7601-C 降低了測試的成本和復(fù)雜性，同時(shí)通過使用單臺儀器測量IL、RL 和反射或傳輸長度來提高生產(chǎn)效率。

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商品描述

LWA 7601-C 光器件分析儀主要用于分析無源光器件和模塊，其測試速度快且易于操作。 可以測試插損(IL)和回?fù)p(RL)分布，以及器件長度，在測試光學(xué)器件時(shí)具有反射和透射兩種測量模式。

 

LWA 7601-C 采用光頻域反射技術(shù)測量光纖背向瑞利散射或透射光作為距離/時(shí)間（或波長）的函數(shù) 。LWA 7601-C 作為光子集成電路和硅光芯片的理想測試工具，得益于其超高的靈敏度和空間分辨率(20μm)?？梢陨墱y量長度，最高可達(dá)500m，使光纖網(wǎng)絡(luò)的測試變得簡單。 LWA 7601-C 降低了測試的成本和復(fù)雜性，同時(shí)通過使用單臺儀器測量IL、RL 和反射或傳輸長度來提高生產(chǎn)效率。


產(chǎn)品特性

產(chǎn)品應(yīng)用

? 回?fù)p (RL) 和插損 (IL) 分析測量

? 長度方向上的回?fù)p分布測量

? 回?fù)p(RL)和插損(IL)的光譜分析

? 探測和精準(zhǔn)定位反射事件和光路

? 速度、空間分辨率、精度優(yōu)化產(chǎn)品測試

? 20μm空間分辨率

? 12.5 Hz 掃描/采集速率（在20m模式下）

? 回?fù)pRL測量

? 插損IL自動測試和分析

? 亞皮秒精度延時(shí)（長度）測量

? PLCs, 波導(dǎo)器件, AWGs,ROADMs, 等器件測量

? 濾波器, 耦合器, 光開關(guān), 分束器, FBGs, 波分器件測試


規(guī)格參數(shù)

參數(shù)LWA7601-CLWA7601-C2
最大測量長度反射模式100 m500 m
透射模式200 m1000 m
空間分辨率(兩點(diǎn))20 μm80 μm
波長精度±2 pm
時(shí)延精度±0.001 %±0.005 %
中心波長1546.69 nm
掃頻（波長）范圍±2500(±20nm) GHz±625(~±5nm) GHz
測量速率（連續(xù)測量）~0.08s (20m)
~0.4s (100m)		~0.5s
最大功率5 mW
 回?fù)p測量特性(反射模式)
RL動態(tài)范圍70 dB
總范圍0to-130 dB
靈敏度-135 dB
分辨率±0.1 dB
精度±0.5 dB
 插損測量特性(反射透射)
IL動態(tài)范圍，透射模式70 dB
IL動態(tài)范圍，反射模式15 dB
分辨率±0.1 dB
精度±0.2 dB
 物理特性
遠(yuǎn)程接口SCPI APl over TCP/IP
光學(xué)接口FC/APC
尺寸35(L) x 47(W) x 10(H) cm
重量（不含設(shè)備控制器）15lbs (7kg)