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便攜式背光反射計 OBR 6200系列

光通訊測試設備

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OBR 6200系列是LUNA公司的新型便攜式背光反射計，具有超高空間分辨率、瑞利散射級的靈敏度，用于對部署在航空航天、海軍、數(shù)據中心和工業(yè)應用中的光纖網絡進行檢測和故障排查。 OBR 6200系列采用光頻域反射技術測量分布式回損（RL）和插損（IL），空間分辨率可達亞毫米級，同時具有高精度和高動態(tài)范圍。OBR 6200集成了充電電池和觸屏顯示器，是工程現(xiàn)場維護的理想工具。 OBR 6225是航空航天、海軍、運輸和工業(yè)應用中短程光纖網絡測試的理想選擇。 產品特點 <p style="margin-top: 5px; margin-bottom: 5px; overflow-wrap: break-word; color: rgb(0, 0, 0); font-family: "sans serif", tahoma, verdana, helvetica; font-size: 12px; text-wrap: wrap; line-height: 1.5em;">? 完全便攜且堅固耐用<p style="margin-top: 5px; margin-bottom: 5px; overflow-wrap: break-word; color: rgb(0, 0, 0); font-family: "sans serif", tahoma, verdana, helvetica; font-size: 12px; text-wrap: wrap; line-height: 1.5em;">? 建立和分析回損、插損與長度的對應關系<p style="margin-top: 5px; margin-bottom: 5px; overflow-wrap: break-word; color: rgb(0, 0, 0); font-family: "sans serif", tahoma, verdana, helvetica; font-size: 12px; text-wrap: wrap; line-height: 1.5em;">? 空間分辨率最高可達 80 μm<p style="margin-top: 5px; margin-bottom: 5px; overflow-wrap: break-word; color: rgb(0, 0, 0); font-family: "sans serif", tahoma, verdana, helvetica; font-size: 12px; text-wrap: wrap; line-height: 1.5em;">? 探測和精準定位反射事件<p style="margin-top: 5px; margin-bottom: 5px; overflow-wrap: break-word; color: rgb(0, 0, 0); font-family: "sans serif", tahoma, verdana, helvetica; font-size: 12px; text-wrap: wrap; line-height: 1.5em;">? 精準測量光路長度<p style="margin-top: 5px; margin-bottom: 5px; overflow-wrap: break-word; color: rgb(0, 0, 0); font-family: "sans serif", tahoma, verdana, helvetica; font-size: 12px; text-wrap: wrap; line-height: 1.5em;">? 自動探測事件點<p style="margin-top: 5px; margin-bottom: 5px; overflow-wrap: break-word; color: rgb(0, 0, 0); font-family: "sans serif", tahoma, verdana, helvetica; font-size: 12px; text-wrap: wrap; line-height: 1.5em;">? 單雙通道可選<p style="margin-top: 5px; margin-bottom: 5px; overflow-wrap: break-word; color: rgb(0, 0, 0); font-family: "sans serif", tahoma, verdana, helvetica; font-size: 12px; text-wrap: wrap; line-height: 1.5em;">? 部分型號擁有IP65和MIL-STD 認證 產品應用 ? 光纖器件的現(xiàn)場故障檢測 ? 精確定位回損和插損事件 ? 航空電子、航空航天、海軍和工業(yè)網絡現(xiàn)場維護 ? 用于數(shù)據中心互連的光纖長度精確測量 ? 光傳感系統(tǒng)故障排查
背光反射計 OBR4600

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LUNA公司的OBR4600是光纖背光反射計系列產品之一。用于光器件/模塊和短距離光網絡的測試和故障排除。OBR4600超高空間分辨率基于瑞利背向散射，空間分辨率10微米，零死區(qū)，能夠集成溫度和應變測試，最長測試范圍可以達到2km。提供卓越的測試結果和故障排除功能，在短時間內快速獲取所需參數(shù)。 在國外主要用于飛機、艦船等專用光網絡鏈路故障和缺陷的檢測及定位；同時具有傳感功能，對關鍵結構的健康狀況監(jiān)測，以及光路中的應變和溫度監(jiān)測。
光矢量分析儀 OVA5100

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LUNA公司的OVA5100是最快速、精確、高效的光矢量分析儀，可用千現(xiàn)代光學設備和系統(tǒng)的損耗、偏振、色散等光學參數(shù)的分析與測試，包括光子集成電路(PIC)。OVA5100是一款與OVASOOO具有同等功能且更便攜的升級換代產品。 該設備是光無源器件的理想測試工具，例如耦合器、特種光纖、光纖光柵、陣列波導光柵、自由空間濾波器、可調諧濾波器件、放大器等等，只要經過簡單的光路連接，通過單次掃描就可以實現(xiàn)光學器件的全參數(shù)測試。 <span style="font-variant-numeric: normal; font-variant-east-asian: normal; font-variant-alternates: normal; font-kerning: auto; font-optical-sizing: auto; font-feature-settings: normal; font-variation-settings: normal; font-variant-position: normal; font-stretch: normal; font-size: 9px; line-height: normal; font-family: "Times New Roman";">        產品特點l   單次測量即可獲取光器件的所有參數(shù)l   3秒內完成器件特性測試l   完整的偏振響應 l   單次掃描可同步測量：l   －損耗(IL及RL)l   －色散 (CD)l   －群延時 (GD)l   －偏振相關損耗(PDL)l   －偏振模色散(PMD)和二階PMD －光時域響應l   －瓊斯矩陣l   －光學相位響應l   實時測量l   友好的用戶界面l   高分辨率C和L波段(OVA5100)或O波段(OVA5113)測試能力  產品應用l   平面光波導和硅光器件分析l   光纖器件測量l   同時測量時域及頻域響應l   獲得完整的光學傳遞函數(shù)，可用于改進器件模擬和模型
光器件分析儀 LCA 510

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Luna LCA 510是一種快速準確的光器件分析儀，是成產測試和質量控制的理想選擇。LCA510能夠滿足生產線大量器件連接并快速測試的需求，同時能夠保證高分辨率和高靈敏度，這在測試和驗證現(xiàn)代光子器件、網絡子系統(tǒng)時至關重要。 LCA 510只需單次掃描就能測試各種無源器件，耦合器、特殊光纖或者其他器件（光纖光柵，陣列波導光柵，自由空間濾波器，波長可調諧器件，放大器等）。 關鍵特性? 單次掃描即可獲取關鍵器件的所有參數(shù)- 插損 (IL)- 回損 (RL)- 偏振相關損耗 (PDL)? 高分辨率 (1.6 pm)和高靈敏度(80 dB 動態(tài)范圍)? 透射和反射兩種測量模式? 無需外部可調諧激光器? 配有C + L波段(LCA 510) 或 O波段(LCA 513)? 3秒內完成全波段范圍掃描測試? 用戶友好界面 應用? 無源器件測試- DWDMs， AWGs，濾波器，光開關，波導光柵，光模塊，耦合器等? 高分辨率測量平面集成光路(PLCs) 和硅光器件? 生產測試和質量控制? 柔性可調諧光源分束器
光器件分析儀 LWA 7000 系列

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LWA 7601-C 光器件分析儀主要用于分析無源光器件和模塊，其測試速度快且易于操作。可以測試插損(IL)和回損(RL)分布，以及器件長度，在測試光學器件時具有反射和透射兩種測量模式。 LWA 7601-C 采用光頻域反射技術測量光纖背向瑞利散射或透射光作為距離/時間（或波長）的函數(shù) 。LWA 7601-C 作為光子集成電路和硅光芯片的理想測試工具，得益于其超高的靈敏度和空間分辨率(20μm)?？梢陨墱y量長度，最高可達500m，使光纖網絡的測試變得簡單。 LWA 7601-C 降低了測試的成本和復雜性，同時通過使用單臺儀器測量IL、RL 和反射或傳輸長度來提高生產效率。

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